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表面電阻率體積電阻測(cè)試儀本儀器是依據(jù)GB/T 1410-2016《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（等同IEC 60093：1980）、GB/T 10064-2006《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗(yàn)方法》（等同IEC 60167:1964）等而設(shè)計(jì)和制造的。 用于測(cè)量固體絕緣材料的絕緣電阻、表面電阻和體積電阻；該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，蕞高量程1016Ω電阻值。

全自動(dòng)體積表面電阻率測(cè)試儀本儀器是依據(jù)GB/T 1410《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（等同IEC 60093）、GB/T 10064《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗(yàn)方法》（等同IEC 60167）等而設(shè)計(jì)和制造的，符合新標(biāo)準(zhǔn)GB/T31838第2.3.4部分測(cè)試要求.。主要用于測(cè)量固體絕緣材料的絕緣電阻、表面電阻/電阻率和體積電阻/電阻率

體積電阻率表面電阻測(cè)定儀對(duì)有些絕緣材料如橡膠以及橡膠制品，薄膜等的上述性能實(shí)驗(yàn)，可按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。 ATI系列觸摸屏直接讀數(shù)體積表面電阻率測(cè)試儀 LST系列數(shù)字顯示微電流測(cè)試，絕緣電阻率測(cè)試

四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)定儀硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

LST系列體積表面電阻率測(cè)量?jī)x，是我公司生產(chǎn)的便攜式數(shù)字顯示高阻測(cè)量?jī)x表，該儀表全面符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006固體絕緣材料體積表面電阻率試驗(yàn)方法、GB/T 31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性 第2部分：電阻特性（DC方法）體積電阻和體積電阻率、GBT2439-2001硫化橡膠或熱塑性橡膠導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定、GBT1692-2008 硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定、

高阻計(jì) 高絕緣電阻測(cè)試儀相對(duì)濕度：不大于80%（無(wú)凝露）。 除地磁場(chǎng)外，無(wú)電脈沖、電火花等干擾電磁場(chǎng)。 電源：DC 8.5—12.5V。

半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 電阻測(cè)量?jī)x 儀器分為電氣箱和測(cè)試架兩部分，儀器電氣箱由直流數(shù)字電壓表、高抗干擾、高度隔離性能的電源變換裝置，高穩(wěn)定、高精度的恒流源所組成。測(cè)量結(jié)果由LED數(shù)字顯示、零位穩(wěn)定、輸入組抗高，儀器并設(shè)有自校功能，在片狀材料測(cè)試時(shí)，具有系數(shù)修正功能，使用方便、測(cè)試架結(jié)構(gòu)新穎

BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研制成功的新型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試器，適合半導(dǎo)體器件廠、材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料（片狀、棒狀）的體電阻率、方塊電阻（薄層電阻），也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻、導(dǎo)電薄層電阻，具有測(cè)量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便