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薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀LJD系列 介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
LJD系列高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
LJD型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀值測(cè)量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) 工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀GB/T1409在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取100uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
介電常數(shù)測(cè)定儀LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀又稱介電常數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗角正切測(cè)試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀。作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。 測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。
介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 10KHZ-70MHZ *2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) 3.Q值測(cè)量范圍:1~1023 4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;
固液介電常數(shù)測(cè)試儀LJD-B介電常數(shù)測(cè)定儀 LJD-C介電常數(shù)測(cè)定儀 頻率范圍 10kHz~10MHz 100kHz~10MHz 固有誤差 ≤5%±滿度值的2% ≤5%±滿度值的2% 工作誤差
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