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簡要描述:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀廠家在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH
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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀廠家
1. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
2. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。
3. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。
1. 再松開兩片極片,把被測樣品夾入平板電容上下極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調(diào)電容容量(旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量),使主機處于諧振點(Q值Z大值)上。
2. 取出S916測試夾具中的樣品,這時主機又失去諧振(Q值變?。?,此時調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使主機再回到諧振點(Q值Z大值)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
3. 計算被測樣品的介電常數(shù):
二 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀廠家介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 主機C0值的計算方式:
a) 選一個適當?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;
b) 將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右,令這個電容是C4,
c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數(shù)為Q4(注:若頻率搜索未能找到Z高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達到Q值Z大值的諧振點;
d) 將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3,Q值讀數(shù)為Q3。(注:C3數(shù)值肯定比C4要小)
機構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4-C3
分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和
介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機處于諧振點(Q值Z大值,為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當Q值為Z大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定),然后按一次 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數(shù)值為C2和Q2。
6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變小),再改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值Z大值,為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當Q值為大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定)上。
7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數(shù)大致相同。
8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。
9. 出錯提示,當出現(xiàn)tn = NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
顯示數(shù)據(jù)介紹:
C1 | 材料拿出后,諧振時測得的電容值 |
C2 | 材料在夾具中,諧振時測得的電容值 |
Q1 | 材料拿出后,諧振時測得的Q值 |
Q2 | 材料在夾具中,諧振時測得的Q值 |
CZ | 主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值 |
CL | 標準電感的分布電容值 |
C0 | 結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值 |
D2 | 材料的厚度 |
tn | 介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值 |
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