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薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀LJD系列 介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

LJD系列高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

LJD型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

LJD型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀值測(cè)量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀GB/T1409在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。

GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀介紹是我公司 研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能

介電常數(shù)測(cè)定儀LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀又稱介電常數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗角正切測(cè)試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀。作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。 測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。

介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 10KHZ-70MHZ *2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) 3．Q值測(cè)量范圍：1～1023 4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；